metrolux夏克-哈德曼波前分析仪WFS

Metrolux夏克-哈德曼波前分析仪WFS3743-40-200可在线分析激光及其他光源的波前相位分布，也可高精度的测量光学器件的像差。可以用于手机和相机的镜头等光学透镜质量控制。夏克-哈特曼式传感器的波前监控器配合外部软件可用于波前数据分析。

产品应用：

用于测量激光的波前；

测量光学器件的像差；

扩展的Raylux软件用于数据分析；

用于透镜的质量控制

产品参数：

测量精度: λ / 1000；

曝光时间: 10μs - 120 s ；

数据解析度: 12 Bit；

帧率： 15fps ；

微透镜个数：45×35；

探测器类型： 2/3CCD”；

有效区域：8.97×6.71mm；

微透镜大小：200μm；

焦距: 40 mm；

动态范围：90 λ；

透镜焦距: 7 mm；

曲率半径: 14 mm ；

像素尺寸: 6.45μm；

像素: 1380 x 1040；

软件界面