基于Phasics四波横向剪切干涉**技术，SID4-HR波前分析仪提供了相位和强度高分辨率（400x300测量点）图。由于它测量发散光束不需要中继镜头，简单对齐即可测试光学元器件。其高分辨率确保结果的重复性。高分辨率还开辟了波前传感的新用途：等离子体密度测量，相位成像显微…

SID4-HR 光学器件测量自适应光学

特点：

由于其独特的**技术，Phasics的SID4-HR波前传感器具备以下特点：

1.超高分辨率：400x300相位图

2.直接测量发散和准直光束

3.从400到1100nm消色差

4.自校准：振动不敏感和容易对齐

5.紧凑，体积小

应用：

由于其分辨率高，SID4-HR波前传感器提供新的可能性应用：

激光：光束诊断、自适应光学和等离子体表征

光学：精密透镜测试和表面测量

生物学：定量相位显微术

SID4-HR产品参数：