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产品简介
基于Phasics四波横向剪切干涉**技术，SID4波前分析仪具备了很高的的相位和强度分辨率（160x120测量点），且使用简便。
SID4-HR 光学器件测量自适应光学
特点：
由于其独特的**技术技术，Phasics的SID4波前传感器具备以下特点：
1.超高分辨率：160x120测量点
2.直接测量发散和准直光束
3.从400到1100nm消色差
4.自校准：振动不敏感和容易对齐
5.紧凑，体积小
应用：
SID4波前传感器提供新的可能性应用：
激光：光束诊断、自适应光学
光学：精密透镜测试和表面测量
生物学：显微自适应光学
SID4产品参数：
波长范围 | 400 - 1100 nm |
通光孔径 | 3.6 x 4.8 mm2 |
空间分辨率 | 29.6 μm |
采样点（相位/强度） | 160 x 120 (> 19 000 points) |
相位相对灵敏度 | < 2 nm RMS |
相位精度 | 10 nm RMS |
动态范围 | > 100 μm |
采样频率 | > 100 fps |
实时分析频率 | > 10 fps (full resolution) |
数据接口 | Giga Ethernet |
尺寸(w x h x l) | 54 x 46 x 75.3 mm |
重量 | ~250 g |
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